薄膜厚度检测是保证薄膜材料性能与质量的重要环节，广泛应用于光学、电子、包装及半导体领域。薄膜厚度精度直接影响产品透光性、导电性、机械强度及功能稳定性。本服务依托先进光学与机械测量技术，并结合国际标准，为客户提供快速、精准的薄膜厚度测量方案。
检测方法
- 非接触光学测量：激光干涉法、白光干涉法、分光光度法；快速、无损、精度高，可达纳米级。
- 接触式机械测量：压力式面接触法、机械扫描法；适用于微观不平整薄膜的仲裁检测，确保结果可比性。
检测范围
材料类型
- 塑料薄膜：BOPP、PET、PE等
- 光学薄膜：增透膜、反射膜、滤光膜
- 半导体薄膜：硅基薄膜、金属镀层
- 包装材料：复合膜、阻隔膜
厚度范围
- 机械法：0.1 μm – 5 mm（适用于仲裁测量）
- 光学法：1 nm – 1 mm（高精度非接触测量）
适用场景
- 实验室研发：纳米级光学涂层验证
- 工业生产：在线厚度监控与质量控制
- 质量仲裁：符合国际标准方法的权威检测
测试标准
| 标准编号 | 标准名称 | 测试方法及适用范围 |
|---|---|---|
| GB/T 6672-2001 | 塑料薄膜和薄片厚度测定 机械测量法 | 压力式面接触法，恒定压力消除微观起伏影响，适用于塑料薄膜及包装材料仲裁检测 |
| ISO 4591:1992 | 塑料 薄膜和薄片 机械扫描法测定厚度 | 机械扫描法，适用于连续薄膜厚度分布测量 |
| ASTM E252-06 | 用称重法测定箔、薄膜和金属片厚度 | 通过单位面积质量与材料密度换算厚度，适用于金属镀层及均质薄膜 |
| ISO 2808:2019 | 色漆和清漆 漆膜厚度的测定 | 光学干涉仪或涡流仪测量涂层厚度，适用于涂层材料检测 |
上海德垲检测优势
- 覆盖塑料薄膜、光学薄膜、半导体薄膜及包装复合膜
- 支持纳米级到毫米级厚度测量，精度高、效率快
- 光学无损检测与机械接触法结合，保证数据可靠性
- 适用于研发、生产及质量仲裁全流程检测
