镀层厚度检测是评价电镀工艺质量和产品是否符合技术规范的重要手段。通过准确测量镀层厚度，可帮助企业改进涂镀工艺、提升表面性能、延长产品使用寿命。
主要检测方法
| 检测方法 | 测试标准 | 适用范围与测量范围 |
|---|---|---|
| 显微镜法（金相法） | GB/T 6462, ISO 1463, ASTM B487, JIS H 8501 | 适合单层或多层金属覆盖层，厚度 ≥0.8 μm，测量范围：1–数百 μm |
| 库仑法 | GB/T 4955, ISO 2177, ASTM B504, JIS H 8501 | 适合单层或多层金属覆盖层，常测Au、Ag、Zn、Cu、Ni、Cr，测量范围：0.25–100 μm |
| 磁性法 | GB/T 4956, ISO 2178, ASTM B499, JIS H 8501 | 适用于磁性基体上的非磁性覆盖层，测量范围：5–7500 μm |
| 涡流法 | GB/T 4957, ISO 2360, ASTM B244, JIS H 8501 | 适合非磁性基体上的非导电覆盖层及非导体上金属覆盖层，测量范围：5–2000 μm |
| X-射线光谱法（XRF） | GB/T 16921, ISO 3497, ASTM B568, JIS H 8501 | 可测最多三层金属覆盖层厚度，测量范围：0.25–30 μm |
| 扫描电镜法（SEM） | GB/T 31563, ISO 9220, ASTM B748, JIS H 8501 | 适合单层或多层金属覆盖层，测量范围：1–数百 μm |
标准参考
- GB/T 6462-2005：金属和氧化物覆盖层 厚度测量 显微镜法
- GB/T 4955-2005：金属覆盖层 覆盖层厚度测量 阳极溶解库仑法
- GB/T 4956-2003：磁性基体上非磁性覆盖层 覆盖层厚度测量 磁性法
- GB/T 4957-2003：非磁性基体金属上非导电覆盖层 涡流法
- GB/T 16921-2005：金属覆盖层 厚度测量 X射线光谱法
- GB/T 31563-2015：金属覆盖层 厚度测量 扫描电镜法
- ASTM B487-24：显微镜法测量金属和氧化物涂层厚度
- ASTM B504-90(2023)：库仑法测量金属镀层厚度
- ASTM B499-09(2021)e1：磁性法测量磁性基体上非磁性涂层厚度
- ASTM B244-09(2021)：涡流法测量铝阳极及非导电涂层厚度
- ASTM B568-98(2021)：X射线光谱法测量覆盖层厚度
- ASTM B748-90(2021)：扫描电镜法测量金属覆盖层厚度
- JIS H 8501:1999：金属覆盖层厚度测量方法
服务优势
- 多方法覆盖：显微镜、库仑、磁性、涡流、XRF、SEM等互补检测
- 高精度与高可靠性：支持多层镀层厚度测量及复杂表面分析
- 工艺优化支持：数据分析助力涂镀工艺改进及产品性能提升
- 资质完备、出报告快、数据精准、服务专业
